對於(yu)激(ji)光粒(li)徑(jing)分析儀(yi)如(ru)何(he)選購(gou)，看這裏(li)！

　　激光粒(li)徑(jing)分析儀(yi)適用於界(jie)面(mian)化學(xue)、無(wu)機物(wu)、半(ban)導(dao)體(ti)、高(gao)分子(zi)、生(sheng)物(wu)、藥(yao)學(xue)、醫學(xue)領域(yu)中(zhong)，除了微粒(li)子(zi)外(wai)，膜(mo)及平板狀樣(yang)品(pin)的(de)表(biao)面(mian)科(ke)學(xue)的(de)基(ji)礎(chu)研究、應(ying)用研究。

　　激(ji)光(guang)粒(li)徑(jing)分析儀(yi)的(de)選購(gou)方(fang)法：

　　1、激光粒(li)度(du)分析儀(yi)測(ce)量(liang)範(fan)圍(wei)粒(li)度(du)範(fan)圍(wei)寬，適(shi)合的(de)應(ying)用廣。不(bu)僅要(yao)看其儀(yi)器所(suo)報(bao)出的(de)範(fan)圍，而且還要看超出主檢(jian)測(ce)器面(mian)積的(de)小(xiao)粒(li)子(zi)散(san)射(she)<0.5μm>如(ru)何(he)檢(jian)測(ce)。

　　醉(zui)好的(de)途徑是(shi)全(quan)範圍直接檢測(ce)，這(zhe)樣(yang)才(cai)能保(bao)證(zheng)本(ben)底扣除(chu)的(de)壹(yi)致性(xing)。不(bu)同方法的(de)混合測(ce)試(shi)，再用計(ji)算機擬合成壹(yi)張圖(tu)譜，肯(ken)定帶(dai)來誤差。

　　2、激(ji)光光(guang)源壹(yi)般選用(yong)2mW激(ji)光器，功(gong)率太(tai)小(xiao)則(ze)散(san)射(she)光(guang)能(neng)量(liang)低，造(zao)成靈(ling)敏(min)度(du)低；另(ling)外，氣(qi)體(ti)光(guang)源波(bo)長(chang)短(duan)，穩(wen)定性優於(yu)固體(ti)光(guang)源。檢(jian)測(ce)器因(yin)為(wei)激光(guang)衍射(she)光環半(ban)徑(jing)越大(da)，光強越弱，極(ji)易(yi)造成小(xiao)粒(li)子(zi)信(xin)噪(zao)比(bi)降(jiang)低(di)而(er)漏(lou)檢(jian)，所(suo)以對小(xiao)粒(li)子(zi)的(de)分布檢(jian)測(ce)能(neng)體(ti)現儀(yi)器的(de)好壞。檢(jian)測(ce)器的(de)發展(zhan)經(jing)歷(li)了圓(yuan)形，半(ban)圓(yuan)形和(he)扇(shan)形幾個階段。

　　3、使用(yong)*的(de)米(mi)氏理(li)論

　　因為(wei)米(mi)氏光(guang)散(san)理(li)論非常(chang)復(fu)雜(za)，數(shu)據處理(li)量大(da)，所以有些廠(chang)家忽略(lve)顆粒(li)本(ben)身折(zhe)光(guang)和(he)吸(xi)收等光(guang)學(xue)性質(zhi)，采(cai)用近(jin)似的(de)米(mi)氏理(li)論，造成適(shi)用(yong)範(fan)圍受限制，漏(lou)檢(jian)幾率增(zeng)大(da)等問(wen)題(ti)。

　　4、準(zhun)確性(xing)和(he)重復(fu)性指標

　　越高越好。采(cai)用NIST標(biao)準(zhun)粒(li)子(zi)檢(jian)測(ce)。

　　5、穩(wen)定(ding)性(xing)

　　儀(yi)器穩(wen)定(ding)性包(bao)括光路(lu)的(de)穩(wen)定性和(he)分散(san)系(xi)統(tong)的(de)穩(wen)定性和(he)周圍環(huan)境(jing)的(de)影響。壹(yi)般來講(jiang)選用(yong)氣(qi)體(ti)激(ji)光(guang)器，使用(yong)光(guang)學(xue)平臺，有助(zhu)於(yu)光路(lu)的(de)穩(wen)定。內部(bu)發熱(re)部件(jian)(如(ru)50瓦(wa)的(de)鎢(wu)燈)將(jiang)影響光路(lu)周圍環(huan)境(jing)。

　　穩(wen)定性指(zhi)標(biao)在廠(chang)家儀(yi)器說(shuo)明(ming)中(zhong)沒有，用戶(hu)只能憑對於(yu)儀(yi)器結(jie)構(gou)的(de)判(pan)斷和參(can)觀或詢問其他(ta)長時間(jian)使用(yong)過(guo)的(de)用(yong)戶(hu)來判(pan)斷(duan)。

　　6、掃描(miao)速度

　　掃(sao)描(miao)速度快(kuai)可提高(gao)數(shu)據準(zhun)確性(xing)，重(zhong)復性(xing)和穩定性。

　　不(bu)同廠(chang)家的(de)儀(yi)器掃(sao)描(miao)速度不(bu)同，從(cong)1次(ci)/秒(miao)到1000次(ci)/秒(miao)。壹(yi)般來講(jiang)，循環(huan)掃描(miao)測(ce)試(shi)次(ci)數(shu)越多(duo)，平(ping)均(jun)結(jie)果的(de)準(zhun)確性(xing)越好，故(gu)速度越高越好；噴射(she)式幹法和噴霧(wu)更(geng)要(yao)求(qiu)速度越高越好；自由(you)降(jiang)落(luo)式幹法雖然(ran)速度不(bu)快，但(dan)由(you)於(yu)粒(li)子(zi)只通過(guo)樣(yang)品(pin)區(qu)壹(yi)次(ci)，速度也(ye)是(shi)快(kuai)壹(yi)些(xie)好。

　　用戶(hu)每(mei)天(tian)需(xu)要處理(li)的(de)樣(yang)品(pin)量，也(ye)是(shi)考(kao)慮速度的(de)因(yin)素。

　　可自動(dong)對中(zhong)，無(wu)需(xu)要換(huan)鏡(jing)頭(tou)，可自動(dong)校(xiao)正。

　　7、使用(yong)和(he)維(wei)護(hu)的(de)簡(jian)便性(xing)

　　關(guan)於這壹(yi)點(dian)，在購(gou)買(mai)之(zhi)前(qian)往(wang)往(wang)被忽視(shi)，而(er)實際(ji)上直接決定(ding)了儀(yi)器使用(yong)效(xiao)率和(he)壽(shou)命(ming)。了解的(de)方(fang)法是(shi)對儀(yi)器結(jie)構(gou)的(de)了解和(he)其他(ta)已有用戶(hu)的(de)反(fan)映。

　　拆(chai)卸、清(qing)洗是(shi)否(fou)方便：粒(li)度(du)儀(yi)分為(wei)主機和(he)分散(san)器兩(liang)部(bu)分。而樣(yang)品(pin)流動(dong)池(chi)總(zong)是(shi)需(xu)要定(ding)期(qi)清洗(xi)的(de)，清(qing)洗間(jian)隔視(shi)樣(yang)品(pin)性質(zhi)而(er)定(ding)。將(jiang)主機和(he)分散(san)器合二為(wei)壹(yi)的(de)儀(yi)器往(wang)往(wang)將樣(yang)品(pin)池深(shen)置於(yu)儀(yi)器內(nei)部(bu)，取出(chu)和拆(chai)卸均(jun)很(hen)繁(fan)瑣，且極(ji)易(yi)碰(peng)壞光(guang)路(lu)系(xi)統(tong)。

　　8、壹(yi)定(ding)要(yao)符(fu)合標準標準(zhun)

　　ISO13320標(biao)準(zhun)是(shi)對激(ji)光(guang)粒(li)度(du)分析儀(yi)的(de)基(ji)本(ben)要求(qiu)。在測(ce)量(liang)亞(ya)微(wei)米(mi)粒(li)子(zi)分布過(guo)程中(zhong)，采(cai)用非(fei)激(ji)光(guang)衍射方(fang)法是(shi)不(bu)符(fu)合標準的(de)。