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          積分(fen)球系統測(ce)量誤差因素之(zhi)遮(zhe)擋(dang)屏(ping)

          發布(bu)日(ri)期(qi): 2020-10-10
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                 首先(xian),理(li)想的(de)積分(fen)球應該(gai)是內(nei)球面各(ge)處半(ban)徑*相(xiang)等(deng)、具有(you)較高(gao)的(de)反射(she)率、呈光(guang)譜(pu)中(zhong)性(xing)且(qie)均勻(yun)壹(yi)致(zhi)的(de)朗(lang)伯(bo)漫反射(she)塗(tu)層,球體內(nei)部沒有(you)任(ren)何其(qi)它(ta)物體(ti)甚至(zhi)標準燈(deng)和被(bei)測燈(deng)也都只(zhi)是(shi)壹個虛(xu)無的(de)發(fa)光點(dian)等(deng)等(deng)。而實(shi)際積分(fen)球肯(ken)定(ding)有(you)諸(zhu)多(duo)變化(hua):反射(she)塗(tu)層不(bu)均勻(yun)、反射(she)率各(ge)不(bu)相同( 塗層材料不(bu)同) 以(yi)及有(you)壹定(ding)的(de)非光譜(pu)中(zhong)性(xing)、內(nei)置物(wu)件較多(duo)如燈(deng)座及支(zhi)架、遮(zhe)擋(dang)屏(ping)、輔助(zhu)燈(deng)等(deng)。

          積分(fen)球系統

                     圖(tu)1  理(li)想積分(fen)球示意(yi)圖(tu)                   圖(tu)2  實(shi)際積分(fen)球示意(yi)圖(tu)


                 其次(ci),這(zhe)裏(li)面的(de)遮(zhe)擋(dang)屏(ping)也應該(gai)是壹(yi)個既(ji)能*遮(zhe)擋(dang)住被(bei)測燈(deng)發出(chu)對接(jie)收(shou)探(tan)頭直(zhi)射的(de)光(guang),但其形(xing)體(ti)又(you)應該(gai)是虛(xu)無的(de)。可見,在積分(fen)球內(nei)的(de)實(shi)物(wu)遮(zhe)擋(dang)屏(ping)的(de)本身(shen)就(jiu)是(shi)對理(li)想積分(fen)球的(de)壹(yi)種破壞,這(zhe)就(jiu)是(shi)誤差的(de)來源之(zhi)壹(yi)。實(shi)物(wu)遮(zhe)擋(dang)屏(ping)除了(le)應具(ju)有與(yu)球壁相同的(de)反射(she)塗(tu)層之(zhi)外,還(hai)應該(gai)是既(ji)能*遮(zhe)擋(dang)住被(bei)測燈(deng)對接(jie)收(shou)探(tan)頭的(de)直(zhi)射光,其體(ti)積形(xing)狀(zhuang)又應該(gai)是盡(jin)可能(neng)小而(er)薄,否(fou)則產生(sheng)的(de)誤差就(jiu)會增大。而(er)IES_LM-79-08標準也(ye)明(ming)確規(gui)定(ding):擋(dang)板(ban)的(de)尺(chi)寸必(bi)須盡量(liang)小,檢(jian)測(ce)器(qi)才(cai)不(bu)會從(cong)受測(ce)的(de)大(da)固態(tai)照明產品(pin)或(huo)標準燈(deng)具中(zhong)直(zhi)接(jie)發光(guang)。


          圖(tu)3   兩種實(shi)際積分(fen)球內(nei)擋(dang)光(guang)屏(ping)及位(wei)置、燈(deng)安裝支(zhi)架

           

                 藍菲積分(fen)球系統配(pei)備了(le)幾(ji)種(zhong)大(da)小不(bu)壹的(de)遮(zhe)擋(dang)屏(ping),很(hen)多(duo)用戶(hu)都(dou)提(ti)出(chu)了(le)這(zhe)樣(yang)的(de)想(xiang)法(fa),為何不(bu)直(zhi)接(jie)用大(da)的(de)遮(zhe)擋(dang)屏(ping)擋(dang)住探(tan)頭,這(zhe)樣(yang)既(ji)省時又(you)方便,而其(qi)他小的(de)遮(zhe)擋(dang)屏(ping)根本用不(bu)上。到底這(zhe)種(zhong)想(xiang)法(fa)對(dui)不(bu)對,我(wo)想通過(guo)本文(wen)來跟(gen)大家做(zuo)壹些(xie)分(fen)析(xi)。
                 再(zai)次(ci),各(ge)檢測(ce)機構和企業所購置的(de)相(xiang)同直(zhi)徑積分(fen)球內(nei)的(de)遮(zhe)擋(dang)屏(ping)在形(xing)狀(zhuang)(長條(tiao)形(xing)、圓形(xing)和(he)長條(tiao)形(xing)疊加圓形(xing))、大(da)小(xiao)、厚度以(yi)及離(li)中(zhong)心(xin)點(dian)的(de)距離(li)各(ge)不(bu)相同。盡管(guan)測(ce)量(liang)之(zhi)前(qian)會進(jin)行校(xiao)準定(ding)標,但誤差大(da)小(xiao)也(ye)還(hai)是(shi)會不(bu)同。更為嚴(yan)重的(de)是(shi),有的(de)檢(jian)測機構可能(neng)沒有(you)配備(bei)各(ge)種規(gui)格(ge)遮(zhe)擋(dang)屏(ping),或者不(bu)了(le)解(jie)原理(li)而在檢測時沒(mei)按被(bei)測物(wu)形(xing)狀(zhuang)和大(da)小(xiao)進(jin)行選用更換(huan)遮(zhe)擋(dang)屏(ping)並重新(xin)使(shi)用標準參考(kao)燈(deng)進行校(xiao)準定(ding)標。還有在測量雙端熒(ying)光燈(deng)或LED燈(deng)管時,必(bi)須使(shi)用長條(tiao)形(xing)遮(zhe)擋(dang)屏(ping)。但因白(bai)熾標準參考(kao)燈(deng)與被(bei)測燈(deng)外形(xing)相(xiang)差(cha)太大(da),從(cong)原理(li)上來說(shuo)長條(tiao)形(xing)遮(zhe)擋(dang)屏(ping)不(bu)適(shi)合(he)白(bai)熾標準參考(kao)燈(deng),對白(bai)熾標準參考(kao)燈(deng)定(ding)標的(de)準確(que)性(xing)影響(xiang)較大(da)。所以(yi),檢測(ce)結果可能(neng)產生(sheng)不(bu)小的(de)誤差。
                 後(hou),遮(zhe)擋(dang)屏(ping)與球心(xin)距離(li)應該(gai)為球半(ban)徑R的(de)1/3,各(ge)檢測(ce)機構的(de)積分(fen)球遮擋(dang)屏(ping)位置也(ye)可能(neng)不(bu)壹。盡(jin)管是(shi)先(xian)用標準參考(kao)燈(deng)校準的(de)相(xiang)對法(fa)測(ce)量(liang),但偏離(li)規(gui)定(ding)就(jiu)會產生(sheng)誤差和(he)壹(yi)致(zhi)性(xing)問(wen)題(ti)。所(suo)以(yi),遮擋(dang)屏(ping)可能(neng)是各(ge)檢測(ce)機構壹致(zhi)性(xing)誤差較大(da)的(de)主(zhu)要(yao)原(yuan)因之(zhi)壹(yi)。
                 壹(yi)般(ban)情(qing)況(kuang)下(xia),我(wo)們會根(gen)據(ju)不(bu)同的(de)燈(deng)具選擇(ze)不(bu)同大小(xiao)的(de)遮(zhe)擋(dang)屏(ping),並且(qie)每(mei)次(ci)更換(huan)時(shi)重新(xin)進行(xing)系統定(ding)標,雖(sui)比(bi)較麻煩(fan)但(dan)對於減少測量(liang)誤差是(shi)很(hen)有(you)必(bi)要的(de)。


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