光(guang)譜儀(yi)的主要(yao)原理(li)：
根據(ju)現(xian)代(dai)光譜儀(yi)器的工(gong)作原(yuan)理(li),光譜儀(yi)可以(yi)分(fen)為兩大(da)類:經(jing)典光譜儀(yi)和新(xin)型(xing)光(guang)譜儀(yi).經典光譜儀(yi)器是(shi)建立在空(kong)間(jian)色(se)散原理上(shang)的(de)儀(yi)器;新型(xing)光(guang)譜儀(yi)器是(shi)建立在調制(zhi)原(yuan)理(li)上(shang)的(de)儀(yi)器.經典光譜儀(yi)器都(dou)是(shi)狹縫光(guang)譜儀(yi)器.調制(zhi)光(guang)譜儀(yi)是(shi)非空(kong)間(jian)分(fen)光的,它采用圓(yuan)孔(kong)進光(guang).
根據(ju)色(se)散(san)組件(jian)的(de)分光原理,光(guang)譜儀(yi)器可分(fen)為:棱鏡光譜儀(yi),衍射(she)光柵光譜儀(yi)和幹涉光(guang)譜儀(yi).光學(xue)多(duo)道分析(xi)儀(yi)OMA(OpticalMulti-channelAnalyzer)是(shi)近十幾(ji)年出(chu)現(xian)的(de)采用光(guang)子探(tan)測器(CCD)和計算(suan)機(ji)控制(zhi)的(de)新(xin)型(xing)光(guang)譜分析(xi)儀(yi)器,它集信息(xi)采集,處理(li),存(cun)儲(chu)諸功(gong)能於壹(yi)體(ti).由於OMA不(bu)再使(shi)用感(gan)光(guang)乳(ru)膠(jiao),避免和省去(qu)了(le)暗室(shi)處(chu)理以(yi)及之後的壹(yi)系(xi)列繁(fan)瑣處理(li),測(ce)量(liang)工(gong)作,使(shi)傳(chuan)統(tong)的光(guang)譜技術(shu)發(fa)生了(le)根本(ben)的改(gai)變(bian),大大改(gai)善(shan)了(le)工(gong)作條件(jian),提(ti)高了(le)工(gong)作效(xiao)率;使(shi)用OMA分(fen)析(xi)光譜,測量(liang)準確迅(xun)速(su),方便(bian),且(qie)靈(ling)敏度(du)高,響(xiang)應(ying)時間(jian)快(kuai),光譜分辨(bian)率高(gao),測量(liang)結(jie)果可立即(ji)從(cong)顯示屏(ping)上(shang)讀出(chu)或(huo)由打印(yin)機(ji),繪(hui)圖儀(yi)輸(shu)出(chu)。它己(ji)被廣(guang)泛使(shi)用於幾(ji)乎(hu)所有(you)的(de)光(guang)譜測量(liang),分析(xi)及研究工(gong)作中(zhong),特別適(shi)應於對微(wei)弱(ruo)信(xin)號(hao),瞬變(bian)信號(hao)的檢(jian)測。
光(guang)譜儀(yi)的主要(yao)構成(cheng)：
主要(yao)由壹(yi)個光學平(ping)臺和壹(yi)個檢(jian)測系(xi)統(tong)組成(cheng)。
包括(kuo)以(yi)下(xia)幾(ji)個主要(yao)部(bu)分：
1.入射狹(xia)縫(feng):在入射光(guang)的(de)照射(she)下形成(cheng)光(guang)譜儀(yi)成像(xiang)系統(tong)的物(wu)點。
2.準直元件(jian):使(shi)狹(xia)縫發(fa)出(chu)的(de)光線變(bian)為平行光(guang)。該(gai)準(zhun)直元件(jian)可以(yi)是(shi)壹(yi)獨(du)立的透(tou)鏡、反射(she)鏡、或直接(jie)集成在(zai)色(se)散元件(jian)上(shang)，如凹面(mian)光柵(zha)光譜儀(yi)中的(de)凹面光柵。
3.色散(san)元件(jian):通(tong)常(chang)采用光(guang)柵(zha)，使(shi)光(guang)信號(hao)在空(kong)間(jian)上(shang)按(an)波(bo)長分(fen)散成為多(duo)條光(guang)束。
4.聚(ju)焦(jiao)元件(jian):聚(ju)焦(jiao)色(se)散(san)後的光束，使(shi)其在焦平(ping)面上(shang)形成(cheng)壹(yi)系(xi)列入射狹(xia)縫(feng)的像(xiang)，其中每(mei)壹(yi)像(xiang)點對(dui)應於壹(yi)特定(ding)波長。
5.探(tan)測器陣(zhen)列：放(fang)置(zhi)於焦平(ping)面(mian)，用於測量(liang)各(ge)波(bo)長(chang)像(xiang)點的光強(qiang)度(du)。該(gai)探(tan)測器陣(zhen)列可以(yi)是(shi)CCD陣(zhen)列或(huo)其它種(zhong)類的(de)光探(tan)測器陣(zhen)列。
