Zeta電位(wei)分析儀(yi)是壹(yi)款(kuan)新型(xing)的、多用(yong)途(tu)分(fen)析儀(yi)，是采(cai)用(yong)光(guang)子(zi)相(xiang)關(guan)光(guang)譜(pu)法(fa)、電(dian)泳(yong)光散(san)射以(yi)及(ji)FST技術來分析的(de)納米(mi)粒度(du)儀(yi)和(he)zeta電(dian)位(wei)壹(yi)體機，並可測定固體以(yi)及(ji)高(gao)濃度(du)懸(xuan)浮(fu)液(ye)的zeta電(dian)位，符合(he)ISO標準。該儀(yi)器(qi)采(cai)用(yong)了高(gao)靈敏(min)度(du)測量技術，可同時滿足低濃(nong)度(du)和(he)高(gao)濃度(du)樣品納米(mi)粒度(du)與zeta電(dian)位分析的(de)要(yao)求，濃度(du)範(fan)圍(wei)由(you)0.001%到(dao)40%，可檢測(ce)粒徑(jing)從0.6nm到(dao)10μm，濃度(du)從0.00001%到(dao)40%的樣品的(de)粒徑(jing)。
Zeta電(dian)位(wei)分(fen)析儀(yi)的(de)測(ce)量原(yuan)理(li)：
該儀(yi)器(qi)采(cai)用(yong)電(dian)聲(sheng)學原(yuan)理(li)來(lai)測量顆(ke)粒的電動(dong)特性。在(zai)分(fen)散(san)系中(zhong)加入(ru)1個(ge)高(gao)頻的(de)電(dian)場(chang)，則帶電顆(ke)粒相(xiang)相(xiang)應電場(chang)內進行(xing)電(dian)泳。如(ru)果(guo)在顆(ke)粒與液(ye)體之(zhi)間(jian)產生(sheng)1個(ge)密(mi)度(du)差，則這種(zhong)運(yun)動(dong)會產生(sheng)1個(ge)交互的聲(sheng)波(bo)。采(cai)用(yong)該電場(chang)和(he)對(dui)應的聲(sheng)波(bo)技術可對樣(yang)品進行(xing)無(wu)幹擾(rao)的測(ce)量，不會破壞樣品的(de)特(te)性(xing)。
其(qi)他技術如(ru)微量電(dian)泳(yong)和(he)電(dian)泳(yong)光(guang)散(san)射技術，須要(yao)樣品被稀(xi)釋，須要(yao)將原(yuan)始(shi)濃(nong)度(du)的樣(yang)品放(fang)大稀釋(shi)好幾倍。因(yin)此，*終用(yong)戶(hu)須(xu)在(zai)人(ren)為(wei)的狀態(tai)下分析顆(ke)粒樣品的(de)特(te)性(xing)，而(er)不是獲(huo)得(de)實(shi)際(ji)狀態(tai)下樣品的(de)真(zhen)實(shi)特(te)性描述。並且(qie)，嚴(yan)格的光學聚焦(jiao)和(he)擴展(zhan)調整(zheng)來適(shi)應靜(jing)態(tai)的(de)層(ceng)裝(zhuang)樣品，使(shi)得(de)微量電(dian)泳(yong)技術變得(de)非(fei)常煩(fan)瑣(suo)，而(er)大的直流(liu)電場(chang)可導(dao)致(zhi)樣品的(de)PH發生漂(piao)移(yi)。如(ru)果(guo)采(cai)用(yong)ZetaFinder型(xing)電(dian)位(wei)分析儀(yi)，則這些(xie)問題(ti)將不復(fu)存在(zai)。
