激光粒徑(jing)分(fen)析儀(yi)適用(yong)於(yu)界面(mian)化學、無機物、半導(dao)體、高(gao)分(fen)子、生物、藥(yao)學(xue)、醫學領域中(zhong)，除(chu)了(le)微粒子(zi)外，膜(mo)及平板狀(zhuang)樣品(pin)的(de)表面(mian)科學的(de)基(ji)礎(chu)研(yan)究(jiu)、應用研(yan)究(jiu)。激光粒度(du)分(fen)析儀(yi)依(yi)據(ju)分(fen)散系(xi)統分(fen)為濕(shi)法(fa)測(ce)試(shi)儀(yi)器，幹法(fa)測(ce)試(shi)儀(yi)器，幹濕(shi)壹(yi)體測(ce)試(shi)儀(yi)器，另(ling)有型儀(yi)器，例(li)如噴霧(wu)激光粒度(du)儀(yi)、在線激光粒度(du)儀(yi)等;
激光粒徑(jing)分(fen)析儀(yi)的(de)選(xuan)購技(ji)巧(qiao)：
1、激光粒度(du)分(fen)析儀(yi)測(ce)量範(fan)圍(wei)粒度(du)範(fan)圍(wei)寬(kuan)，適合的(de)應用廣(guang)。不僅(jin)要(yao)看其(qi)儀(yi)器所(suo)報(bao)出的(de)範(fan)圍(wei)，而(er)且還(hai)要(yao)看超(chao)出主檢(jian)測(ce)器面(mian)積(ji)的(de)小粒子(zi)散(san)射(she)<0.5μm>如何檢(jian)測(ce)。
好的(de)途(tu)徑(jing)是(shi)全範(fan)圍(wei)直接檢(jian)測(ce)，這(zhe)樣(yang)才能保證(zheng)本底扣(kou)除的(de)壹(yi)致性。不同方(fang)法(fa)的(de)混(hun)合測(ce)試(shi)，再用(yong)計算(suan)機擬合成(cheng)壹(yi)張(zhang)圖譜，肯定帶(dai)來(lai)誤(wu)差。
2、激光光(guang)源(yuan)壹(yi)般選(xuan)用(yong)2mW激光器(qi)，功(gong)率太小則散(san)射(she)光(guang)能量低(di)，造成(cheng)靈敏(min)度(du)低;另(ling)外，氣(qi)體光源波長(chang)短(duan)，穩(wen)定性優於固(gu)體光源。檢(jian)測(ce)器因(yin)為激光衍(yan)射(she)光(guang)環(huan)半徑(jing)越(yue)大(da)，光強(qiang)越(yue)弱，極(ji)易造(zao)成(cheng)小粒子(zi)信(xin)噪比降低(di)而(er)漏檢(jian)，所以(yi)對小粒子(zi)的(de)分(fen)布檢(jian)測(ce)能體現儀(yi)器的(de)好(hao)壞(huai)。檢(jian)測(ce)器的(de)發(fa)展經歷了圓(yuan)形(xing)，半圓(yuan)形(xing)和(he)扇形(xing)幾(ji)個階(jie)段(duan)。
3、使用*的(de)米(mi)氏(shi)理(li)論
因為米(mi)氏(shi)光(guang)散(san)理(li)論非常復雜(za)，數據(ju)處(chu)理(li)量大(da)，所以(yi)有些廠(chang)家(jia)忽略(lve)顆粒本(ben)身(shen)折(zhe)光和(he)吸(xi)收等(deng)光學性質，采用近似(si)的(de)米(mi)氏(shi)理(li)論，造成(cheng)適用(yong)範(fan)圍(wei)受限(xian)制(zhi)，漏檢(jian)幾率(lv)增大(da)等問(wen)題(ti)。
4、準確(que)性和(he)重(zhong)復性指標
越(yue)高(gao)越(yue)好。采用NIST標(biao)準粒子(zi)檢(jian)測(ce)。
5、穩(wen)定性
儀(yi)器穩(wen)定性包括光(guang)路的(de)穩(wen)定性和(he)分(fen)散系(xi)統的(de)穩(wen)定性和(he)周(zhou)圍(wei)環(huan)境的(de)影(ying)響(xiang)。壹(yi)般來(lai)講(jiang)選用(yong)氣(qi)體激光器(qi)，使用光學平臺(tai)，有助於(yu)光(guang)路的(de)穩(wen)定。內(nei)部發(fa)熱部件(jian)(如50瓦的(de)鎢(wu)燈(deng))將影(ying)響光(guang)路周(zhou)圍(wei)環(huan)境。
穩(wen)定性指標在廠家儀(yi)器說明(ming)中沒有，用戶(hu)只(zhi)能憑(ping)對於儀(yi)器結構的(de)判(pan)斷(duan)和(he)參觀(guan)或(huo)詢(xun)問(wen)其(qi)他長(chang)時間使用過的(de)用(yong)戶(hu)來(lai)判(pan)斷(duan)。
6、掃描速(su)度(du)
掃描速(su)度(du)快可提(ti)高(gao)數(shu)據(ju)準確(que)性，重(zhong)復性和(he)穩(wen)定性。
不同廠家(jia)的(de)儀(yi)器掃描速(su)度(du)不同，從(cong)1次(ci)/秒到1000次(ci)/秒。壹(yi)般來(lai)講(jiang)，循環(huan)掃描測(ce)試(shi)次(ci)數(shu)越(yue)多，平均(jun)結果(guo)的(de)準確(que)性越(yue)好，故(gu)速度(du)越(yue)高(gao)越(yue)好;噴射(she)式(shi)幹法(fa)和(he)噴霧(wu)更要(yao)求速度(du)越(yue)高(gao)越(yue)好;自(zi)由(you)降落式(shi)幹法(fa)雖(sui)然速度(du)不快，但由(you)於粒子(zi)只(zhi)通過(guo)樣(yang)品區壹(yi)次(ci)，速(su)度(du)也是(shi)快壹(yi)些好(hao)。
用(yong)戶(hu)每天(tian)需要(yao)處理(li)的(de)樣(yang)品(pin)量，也是(shi)考慮(lv)速(su)度(du)的(de)因(yin)素(su)。
可自(zi)動對中，無需要(yao)換(huan)鏡頭(tou)，可(ke)自(zi)動校(xiao)正。
7、使用和(he)維(wei)護(hu)的(de)簡(jian)便(bian)性
關(guan)於這(zhe)壹(yi)點(dian)，在(zai)購買(mai)之前(qian)往(wang)往(wang)被(bei)忽視，而實際(ji)上(shang)直接決定了儀(yi)器使用效(xiao)率和(he)壽命(ming)。了(le)解的(de)方(fang)法(fa)是(shi)對儀(yi)器結構的(de)了(le)解(jie)和(he)其(qi)他已(yi)有用戶(hu)的(de)反映。
拆卸、清洗是(shi)否方(fang)便(bian):粒度(du)儀(yi)分(fen)為主機和(he)分(fen)散器(qi)兩部(bu)分(fen)。而樣(yang)品流(liu)動池(chi)總(zong)是(shi)需要(yao)定期清洗(xi)的(de)，清(qing)洗(xi)間隔(ge)視(shi)樣(yang)品(pin)性質而定。將主機和(he)分(fen)散器(qi)合二(er)為(wei)壹(yi)的(de)儀(yi)器往(wang)往(wang)將(jiang)樣(yang)品池(chi)深(shen)置於儀(yi)器內(nei)部，取出和(he)拆卸均(jun)很(hen)繁(fan)瑣(suo)，且極(ji)易碰壞光路系統。
