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          zeta電(dian)位(wei)分析(xi)儀(yi)其操(cao)作(zuo)是(shi)很有講(jiang)究的(de)

          發布日期: 2024-07-24
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            Zeta電(dian)位(wei)分析(xi)儀(yi)是(shi)壹(yi)種(zhong)先(xian)進(jin)的(de)科學儀(yi)器(qi),主(zhu)要(yao)用於(yu)研(yan)究粒子、膠(jiao)體(ti)和生物大(da)分子等物質(zhi)的(de)表面(mian)電(dian)荷特(te)性。其主(zhu)要(yao)基(ji)於(yu)電(dian)泳(yong)或(huo)電(dian)滲原理,結合(he)光散射技(ji)術(shu),實現對(dui)顆粒或(huo)分(fen)子(zi)表面(mian)電(dian)荷特(te)性的(de)高精(jing)度(du)測(ce)量。電(dian)泳(yong)現象是(shi)指在(zai)外(wai)加電(dian)場(chang)作(zuo)用下(xia),帶電(dian)顆粒或(huo)分(fen)子(zi)在(zai)液(ye)體(ti)中發生(sheng)移動的(de)現象,其速(su)度(du)和(he)方(fang)向(xiang)由(you)外(wai)加電(dian)場(chang)的(de)強度(du)和(he)方(fang)向(xiang)決定(ding)。通過(guo)測(ce)量顆粒在(zai)電(dian)場(chang)中的(de)電(dian)泳(yong)運動速(su)度(du)和(he)方(fang)向(xiang),Zeta電(dian)位(wei)分析(xi)儀(yi)能(neng)夠推算出(chu)顆粒表面(mian)的(de)電(dian)荷密度(du)和(he)電(dian)位(wei)。
            zeta電(dian)位(wei)分析(xi)儀(yi)的(de)操(cao)作(zuo)步(bu)驟:
            1、樣(yang)品準(zhun)備
            代(dai)表性樣(yang)品:選擇(ze)具(ju)有代(dai)表性的(de)樣(yang)品,並(bing)確(que)保其未受到任何汙染(ran)或(huo)降解(jie),以(yi)避免(mian)影響(xiang)測量結果(guo)。
            適(shi)當稀(xi)釋(shi):根(gen)據需要(yao)對(dui)樣(yang)品進(jin)行適(shi)當稀(xi)釋(shi),以(yi)保證測量時不(bu)會(hui)因(yin)為濃度(du)過(guo)高而影響(xiang)zeta電(dian)位(wei)的(de)準(zhun)確(que)性。
            2、設(she)備(bei)預熱(re)
            預熱(re)時(shi)間:確(que)保設備(bei)充分(fen)預熱(re),壹(yi)般建(jian)議(yi)至(zhi)少預熱(re)30分(fen)鐘(zhong),以(yi)達(da)到穩定(ding)的(de)工作(zuo)溫度(du)。
            性能(neng)檢(jian)查:在(zai)預熱(re)過(guo)程(cheng)中檢查設備(bei)的(de)各(ge)項性能(neng)指(zhi)標,確(que)保設備(bei)處於(yu)最(zui)佳(jia)工(gong)作(zuo)狀(zhuang)態。
            3、參數(shu)設置
            輸(shu)入(ru)參數(shu):根(gen)據樣(yang)品的(de)特(te)性和(he)測(ce)量要(yao)求(qiu),設置合(he)適的(de)參數(shu),如溫度(du)、電(dian)壓(ya)和測(ce)量時間等。
            保存設(she)置:確(que)保所有設置參數(shu)正(zheng)確(que)無誤後(hou)保存,以(yi)便(bian)後(hou)續(xu)測(ce)量時可(ke)以迅速(su)調用。
            4、樣(yang)品註入(ru)
            避免(mian)氣泡:在(zai)註(zhu)入(ru)樣(yang)品時應(ying)小心操(cao)作(zuo),避免(mian)產生氣泡,因(yin)為氣泡可(ke)能(neng)影響(xiang)測量結果(guo)。
            填(tian)充至(zhi)標線(xian):確(que)保樣(yang)品容(rong)器中的(de)樣(yang)品量足夠,壹(yi)般需(xu)要(yao)填(tian)充至(zhi)指(zhi)d的(de)標線(xian)。
            5、數(shu)據收集
            啟(qi)動(dong)測(ce)量:在(zai)確(que)認樣(yang)品已(yi)準(zhun)備好(hao)且(qie)設備(bei)設(she)置正(zheng)確(que)後(hou),啟(qi)動(dong)測(ce)量程(cheng)序,開始(shi)數(shu)據收集。
            實時監控:在(zai)測(ce)量過(guo)程(cheng)中實時監控數(shu)據的(de)變(bian)化(hua),確(que)保測量順(shun)利進(jin)行,沒有異常(chang)情況(kuang)發生(sheng)。
            6、數(shu)據分析(xi)
            數(shu)據處理:測量完(wan)成後(hou),使用設(she)備自帶的(de)軟件(jian)或(huo)第(di)三方(fang)軟件(jian)進(jin)行數(shu)據處理,計算得到zeta電(dian)位(wei)值(zhi)。
            結果(guo)評(ping)估(gu):對(dui)得(de)到的(de)zeta電(dian)位(wei)值(zhi)進(jin)行評(ping)估(gu),判斷(duan)是(shi)否(fou)符(fu)合(he)預期,如果(guo)結果(guo)異常(chang),需(xu)要(yao)重新(xin)檢查(zha)樣(yang)品或(huo)測(ce)量過(guo)程(cheng)。
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