zeta電位分析儀(yi)是壹(yi)種先進(jin)的(de)科學儀器，主(zhu)要(yao)用(yong)於(yu)研(yan)究粒(li)子(zi)、膠體和生(sheng)物大分子等物質的(de)表(biao)面電(dian)荷(he)特性。其主(zhu)要(yao)基(ji)於(yu)電(dian)泳或電滲(shen)原(yuan)理，結(jie)合(he)光(guang)散射技(ji)術，實現(xian)對顆(ke)粒(li)或分子表(biao)面電(dian)荷(he)特性的(de)高精度(du)測量。電泳現(xian)象是指在(zai)外(wai)加(jia)電場作(zuo)用(yong)下(xia)，帶(dai)電顆(ke)粒(li)或分子在(zai)液(ye)體中發生(sheng)移動(dong)的(de)現(xian)象，其速(su)度和方(fang)向由(you)外(wai)加(jia)電場的(de)強度(du)和方(fang)向決(jue)定。通過測量顆(ke)粒(li)在(zai)電場中(zhong)的(de)電泳運(yun)動(dong)速(su)度和方(fang)向，Zeta電位分析儀(yi)能(neng)夠推算(suan)出顆(ke)粒(li)表(biao)面的(de)電荷(he)密(mi)度(du)和電位(wei)。
1、高(gao)精度(du)測量
高靈(ling)敏(min)度(du)傳感器：zeta電位(wei)分析儀(yi)配(pei)備高靈(ling)敏(min)度(du)的(de)傳感器，能(neng)夠精確地(di)檢測微(wei)小(xiao)的(de)電位(wei)變(bian)化(hua)。
先進(jin)的(de)算(suan)法(fa)：設備采用(yong)先進(jin)的(de)算(suan)法(fa)對(dui)測量數(shu)據(ju)進(jin)行(xing)處(chu)理(li)，確保(bao)測量結(jie)果(guo)的(de)準(zhun)確性和重復(fu)性。
2、操作(zuo)簡(jian)便
用(yong)戶(hu)友好(hao)的(de)界(jie)面：具(ju)有(you)直(zhi)觀(guan)的(de)操作(zuo)界(jie)面，新(xin)用(yong)戶(hu)也能(neng)快速(su)上手(shou)，簡化(hua)了(le)操作(zuo)流程(cheng)。
自動(dong)化(hua)程(cheng)度(du)高：自動(dong)化(hua)的(de)測量過程(cheng)減少(shao)了(le)人為操作(zuo)的(de)需(xu)求(qiu)，降低了(le)操作(zuo)難度。
3、多功能(neng)性
多種(zhong)測量模式(shi)：支(zhi)持(chi)多種(zhong)測量模式(shi)，如(ru)流動(dong)電(dian)位法、電泳光(guang)散射法(fa)等，滿足(zu)不同應(ying)用場景的(de)需(xu)求(qiu)。
多(duo)參(can)數(shu)分析：除(chu)了(le)zeta電位(wei)，還(hai)能(neng)測量其他相(xiang)關參(can)數(shu)，如PH值(zhi)、電(dian)導率等，提供更(geng)全面的(de)信息。
4、數(shu)據(ju)可(ke)靠性
實時(shi)監(jian)控與(yu)記(ji)錄：設備能(neng)實時(shi)監(jian)控測量過程(cheng)並(bing)記(ji)錄數(shu)據(ju)，便於(yu)後(hou)續(xu)分析和追溯。
數(shu)據(ju)分析軟(ruan)件：配(pei)備專業(ye)的(de)數(shu)據(ju)分析軟(ruan)件，可(ke)以對(dui)測量數(shu)據(ju)進(jin)行(xing)深(shen)入分析，確保(bao)數(shu)據(ju)的(de)準(zhun)確性和可(ke)靠性。
5、適(shi)應性強
廣(guang)泛的(de)應用(yong)：適(shi)用於(yu)多(duo)種(zhong)樣品類(lei)型，如(ru)顆(ke)粒(li)、乳液(ye)、懸浮液(ye)等，滿足(zu)不同行(xing)業的(de)需(xu)求(qiu)。
環(huan)境適(shi)應性：設備設計(ji)考(kao)慮(lv)到(dao)不(bu)同(tong)環(huan)境條件(jian)下(xia)的(de)使用，確保(bao)在(zai)各種(zhong)環(huan)境下(xia)都能(neng)穩(wen)定工作(zuo)。
6、持(chi)續(xu)更(geng)新(xin)升(sheng)級
軟件(jian)升(sheng)級：定期(qi)更(geng)新(xin)軟(ruan)件(jian)，引入最新(xin)的(de)數(shu)據(ju)處(chu)理(li)技術和算(suan)法(fa)，提(ti)升(sheng)設備的(de)測量性能(neng)。
硬件(jian)升(sheng)級：根據(ju)技(ji)術(shu)發展，不(bu)斷優化(hua)硬(ying)件(jian)設計(ji)，提(ti)高設備的(de)穩(wen)定性和耐用(yong)性。
