反(fan)射率(lv)測(ce)定(ding)儀是壹(yi)種用於(yu)測(ce)量材料(liao)表(biao)面(mian)反(fan)射率(lv)的設(she)備(bei)。其(qi)工(gong)作原理(li)基(ji)於(yu)光(guang)的反(fan)射現(xian)象(xiang)，通(tong)過發送壹(yi)束特定波長的光(guang)線(xian)到(dao)被(bei)測(ce)試(shi)材料(liao)表(biao)面(mian)，然後測(ce)定(ding)被(bei)反(fan)射回來的光(guang)線(xian)強度(du)，從而計(ji)算(suan)出材料(liao)的反(fan)射率(lv)。其(qi)具有(you)壹(yi)些重要(yao)的技術(shu)指(zhi)標(biao)，例(li)如(ru)其測(ce)量精(jing)度(du)、波長範圍(wei)、光(guang)源穩(wen)定(ding)性(xing)等(deng)。其(qi)中(zhong)，高(gao)精(jing)度(du)的反(fan)射率(lv)測(ce)定(ding)儀可以滿(man)足(zu)國際標(biao)準ISO3906—1980(E)對(dui)反(fan)射率(lv)的要(yao)求，能(neng)夠準確測(ce)量各種(zhong)塗層(ceng)、油(you)脂(zhi)、薄膜(mo)、塑料(liao)制(zhi)品(pin)、有(you)機制品(pin)的透(tou)明(ming)程(cheng)度(du)以(yi)及(ji)固(gu)體(ti)表面的反(fan)射率(lv)。
反(fan)射率(lv)測(ce)定(ding)儀在(zai)測(ce)量時(shi)的操(cao)作步(bu)驟：
1、放置樣(yang)品(pin)
將(jiang)樣品(pin)置(zhi)於樣品(pin)臺(tai)上，調整(zheng)位(wei)置使被(bei)測(ce)面(mian)與(yu)入(ru)射光(guang)垂直(zhi)（入射角(jiao)通(tong)常為(wei)8°或d/0°）。
對(dui)於不(bu)規則樣(yang)品(pin)，可使用夾(jia)具固(gu)定或(huo)傾斜(xie)至合(he)適(shi)角(jiao)度(du)。
2、設(she)置(zhi)參(can)數(shu)
根(gen)據(ju)需求(qiu)選(xuan)擇(ze)測(ce)量模式：
單點測(ce)量：直接(jie)對(dui)準特定區(qu)域(yu)測(ce)量反(fan)射率(lv)。
多(duo)點掃描：設(she)置掃描範圍(wei)（如(ru)X/Y軸移動），自動采(cai)集多(duo)個(ge)點(dian)的數(shu)據(ju)。
光譜(pu)掃描：選(xuan)擇(ze)波長範圍(wei)（如(ru)可見(jian)光(guang)400~700nm或(huo)紫外-紅(hong)外(wai)波段）。
輸入樣品(pin)編號(hao)、測(ce)試(shi)條件（如(ru)入射角(jiao)、光圈大(da)小(xiao)）等備(bei)註(zhu)信(xin)息(xi)。
3、開(kai)始(shi)測(ce)量
按(an)下(xia)“測(ce)量”鍵，儀器(qi)自動采(cai)集數(shu)據(ju)並顯示反(fan)射率(lv)值(zhi)（如(ru)百分比(bi)或(huo)絕對(dui)數值(zhi)）。
若(ruo)為(wei)光(guang)譜型儀器(qi)，可觀察(cha)反(fan)射率(lv)隨波長變(bian)化的曲(qu)線(xian)（如(ru)峰值(zhi)、谷(gu)值(zhi)位(wei)置）。
4、數據(ju)記錄(lu)與保(bao)存
記錄(lu)測(ce)量結(jie)果(guo)（如(ru)平(ping)均值(zhi)、標(biao)準差(cha)、最大(da)/最小(xiao)值(zhi)），並(bing)標(biao)註(zhu)測(ce)試(shi)條件（溫濕度(du)、樣(yang)品(pin)批次(ci)等(deng)）。
導出數據(ju)至電腦(nao)（通(tong)過USB、藍牙(ya)或(huo)RS-232接(jie)口(kou)），保(bao)存為Excel、CSV或(huo)專用格式(shi)。
