激(ji)光粒徑分析儀(yi)原理光在傳(chuan)播中，波前受(shou)到與(yu)波長尺度相(xiang)當的隙(xi)孔或(huo)顆粒的限(xian)制(zhi)，以(yi)受限(xian)波前處(chu)各(ge)元(yuan)波為源的發射(she)在空(kong)間(jian)幹(gan)涉而(er)產生衍(yan)射(she)和散(san)射(she)，衍射和(he)散(san)射(she)的光能的空間(jian)（角度）分布(bu)與光波波長和(he)隙(xi)孔或(huo)顆粒的尺度有關。 激(ji)光粒徑分析儀(yi)適用於界(jie)面化(hua)學、無(wu)機(ji)物(wu)、半(ban)導(dao)體(ti)、高(gao)分子、生物(wu)、藥(yao)學、醫(yi)學(xue)領(ling)域中(zhong)，除(chu)了(le)微粒子外(wai)，膜及平板(ban)狀樣品(pin)的表面(mian)科(ke)學(xue)的基礎研究、應用研究。激(ji)光粒度分析儀(yi)依據(ju)分散(san)系(xi)統分為濕(shi)法測(ce)試(shi)儀(yi)器，幹(gan)法(fa)測試儀器(qi)，幹(gan)濕(shi)壹(yi)體(ti)測試(shi)儀(yi)器(qi)，另(ling)有型儀器，例(li)如噴(pen)霧激(ji)光粒度儀(yi)、在線(xian)激(ji)光粒度儀(yi)等;
采(cai)用(yong)濕法分散(san)技術，機械(xie)攪拌使樣品(pin)均勻散(san)開(kai)，超聲(sheng)高(gao)頻震蕩使(shi)團(tuan)聚(ju)的顆粒充分分散(san)，電(dian)磁循(xun)環(huan)泵(beng)使大(da)小顆粒在整個(ge)循(xun)環(huan)系統中(zhong)均(jun)勻分布(bu)，從而(er)在根(gen)本(ben)上保(bao)證了寬(kuan)分布(bu)樣品(pin)測試(shi)的準確(que)重復(fu)。
測(ce)試(shi)操作簡(jian)便快捷:放(fang)入(ru)分散(san)介(jie)質(zhi)和被(bei)測樣品(pin)，啟動(dong)超聲(sheng)發生器(qi)使(shi)樣品(pin)充分分散(san)，然(ran)後啟動(dong)循(xun)環(huan)泵(beng)，實際的測試(shi)過程只(zhi)有幾秒(miao)鐘(zhong)。測(ce)試(shi)結果以粒度分布(bu)數(shu)據(ju)表(biao)、分布(bu)曲線(xian)、比(bi)表面積、D10、D50、D90等方式(shi)顯(xian)示(shi)、打印(yin)和(he)記錄.
輸出(chu)數(shu)據(ju)豐(feng)富直觀(guan):本儀(yi)器(qi)的軟(ruan)件(jian)可(ke)以在各(ge)種計(ji)算機(ji)視窗(chuang)平臺上運行，具(ju)有操作簡(jian)單(dan)直(zhi)觀的特(te)點(dian)，不(bu)僅對(dui)樣品(pin)進行(xing)動(dong)態檢測，而(er)且具(ju)有強(qiang)大(da)的數(shu)據(ju)處(chu)理與輸(shu)出(chu)功能,用戶(hu)可(ke)以選擇和設計理想的表格(ge)和(he)圖形(xing)輸(shu)出(chu)。
