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          Zeta電(dian)位(wei)分析(xi)儀(yi)的技(ji)術(shu)特(te)點(dian)都(dou)在這裏了!還不(bu)來看(kan)看(kan)!

          發布日(ri)期(qi): 2021-02-03
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             Zeta電(dian)位(wei)分析(xi)儀(yi)是壹款新型的、多用途分析(xi)儀(yi),是采(cai)用光子(zi)相關(guan)光譜(pu)法、電(dian)泳光散(san)射以(yi)及(ji)FST技(ji)術(shu)來分析(xi)的麥克默瑞提克納米(mi)粒(li)度儀(yi)和zeta電(dian)位(wei)壹體(ti)機(ji),並(bing)可(ke)測定固體(ti)以(yi)及(ji)高濃(nong)度懸(xuan)浮液(ye)的zeta電(dian)位(wei),符(fu)合ISO標(biao)準。該(gai)儀器(qi)采(cai)用了高靈(ling)敏(min)度測量(liang)技(ji)術(shu),可(ke)同(tong)時滿足(zu)低濃(nong)度和高濃(nong)度樣(yang)品(pin)納米粒度與(yu)zeta電(dian)位(wei)分析(xi)的要(yao)求(qiu),濃(nong)度範(fan)圍(wei)由0.001%到40%,可(ke)檢(jian)測粒徑從(cong)0.6nm到(dao)10μm,濃(nong)度從(cong)0.00001%到(dao)40%的樣(yang)品(pin)的粒徑。
            采用電(dian)聲學原理來測量(liang)顆粒(li)的電(dian)動特(te)性。在分散系(xi)中(zhong)加入(ru)1個高頻的電(dian)場,則(ze)帶(dai)電(dian)顆粒(li)相相應(ying)電(dian)場內進(jin)行(xing)電(dian)泳。如(ru)果(guo)在顆粒與(yu)液(ye)體(ti)之(zhi)間產生1個密度差(cha),則(ze)這種運(yun)動會產生1個交(jiao)互的聲波(bo)。采(cai)用該電(dian)場和對(dui)應(ying)的聲波(bo)技(ji)術(shu)可(ke)對(dui)樣(yang)品(pin)進(jin)行(xing)無(wu)幹(gan)擾(rao)的測量(liang),不(bu)會(hui)破壞樣(yang)品(pin)的特(te)性。
            Zeta電(dian)位(wei)分析(xi)儀(yi)的技(ji)術(shu)特(te)點(dian):
            1、采(cai)用的電(dian)動聲波(bo)振蕩(dang)技(ji)術(shu),該(gai)儀(yi)器(qi)可(ke)完成(cheng)非凡(fan)的電(dian)動測量(liang)結果(guo),從(cong)而避(bi)免了傳(chuan)統的微電(dian)泳技(ji)術(shu)的許(xu)多限(xian)制(zhi)和局(ju)限(xian)。
            2、提供(gong)數據(ju)快(kuai)速(su)準確(que)而不(bu)需要(yao)稀(xi)釋(shi)樣(yang)品(pin),從(cong)而避(bi)免了稀(xi)釋(shi)器(qi)材(cai)的使用和錯誤(樣(yang)品(pin)稀(xi)釋(shi),Zeta電(dian)位(wei)將(jiang)*改(gai)變(bian));
            3、該儀(yi)器(qi)可(ke)同(tong)時測量(liang)Zeta電(dian)位(wei)、PH、電(dian)導、溫度等(deng)指(zhi)標(biao)。樣(yang)品(pin)在測量(liang)時甚至(zhi)可(ke)以(yi)進(jin)行(xing)滴定操(cao)作(zuo);
            4、堅(jian)固的、多功能(neng)的、鍍金的Zeta浸入(ru)探頭可以(yi)用於樣(yang)品(pin)室或獨立(li)的容器(qi)中(zhong);
            5、自(zi)動滴定法(fa)用於簡單的IEP測量(liang);
            6、樣(yang)品(pin)可被強(qiang)烈(lie)攪(jiao)拌(ban)或(huo)混(hun)合,因(yin)此不(bu)會(hui)產生沈(chen)澱(dian)物;
            7、高(gao)頻電(dian)場采(cai)用非常(chang)短(duan)的脈沖,因此(ci)樣(yang)品(pin)測量(liang)時不(bu)會(hui)產生錯誤;
            8、可(ke)實(shi)時測量(liang)實(shi)際(ji)樣(yang)品(pin);
            9、不(bu)使(shi)用光學技(ji)術(shu),因(yin)此(ci)可以(yi)在任何(he)pH值(zhi)下分(fen)析(xi)固(gu)體(ti)、不(bu)透明(ming)或半(ban)透明(ming)樣(yang)品(pin);
            10、可測量(liang)水溶(rong)液、非(fei)水溶(rong)液分(fen)散系(xi),分散系(xi)濃(nong)度範(fan)圍(wei)從(cong)0.1% ~60%。非(fei)常(chang)輕(qing)松就(jiu)可(ke)測量(liang)1nm到50um的樣(yang)品(pin)顆粒;
            11、該儀(yi)器(qi)操(cao)作(zuo)非(fei)常(chang)簡單。它提供(gong)電(dian)腦控制(zhi)、自(zi)動測量(liang),不(bu)須(xu)特(te)別(bie)的樣(yang)品(pin)池(chi),樣(yang)品(pin)可隨時從(cong)任何(he)現場或(huo)實(shi)驗中(zhong)獲取(qu),可直(zhi)接實(shi)時獲得(de)理想的
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