激光(guang)粒徑測量分析(xi)儀(yi)是納(na)米顆(ke)粒表(biao)征(zheng)儀(yi)器(qi)，業(ye)界(jie)寬的(de)測量範(fan)圍(wei)，高的(de)測量精(jing)度(du)。粒徑測量範(fan)圍(wei)（0.6nm～10μm），濃(nong)度(du)範(fan)圍(wei)（0.00001%～40%）。實測電(dian)氣滲透(tou)流，高精(jing)度(du)的ZETA電(dian)位(wei)測量，xxx小(xiao)容(rong)量是130μL～的(de)壹(yi)次性(xing)cell。適(shi)用(yong)於(yu)界(jie)面化(hua)學、無(wu)機物、半(ban)導體(ti)、高分(fen)子(zi)、生(sheng)物(wu)、藥(yao)學(xue)、醫(yi)學(xue)領(ling)域(yu)中(zhong)，除(chu)了微(wei)粒子(zi)外，膜及(ji)平板(ban)狀樣(yang)品(pin)的(de)表(biao)面(mian)科學的基(ji)礎研(yan)究(jiu)、應(ying)用(yong)研(yan)究(jiu)。
激光(guang)粒徑測量分析(xi)儀(yi)原理光(guang)在傳(chuan)播中，波(bo)前受(shou)到(dao)與波(bo)長(chang)尺度(du)相(xiang)當(dang)的(de)隙(xi)孔(kong)或顆(ke)粒的限(xian)制，以(yi)受(shou)限(xian)波前處(chu)各元波為源(yuan)的(de)發(fa)射在空間(jian)幹涉(she)而產生(sheng)衍(yan)射和散射，衍射和散射的光(guang)能(neng)的空間(jian)（角度）分(fen)布(bu)與光(guang)波(bo)波(bo)長(chang)和(he)隙(xi)孔(kong)或顆(ke)粒的尺度(du)有關。采(cai)用(yong)濕法(fa)分(fen)散技(ji)術，機械(xie)攪拌(ban)使樣(yang)品(pin)均勻(yun)散開，超聲(sheng)高頻(pin)震(zhen)蕩(dang)使團(tuan)聚的顆(ke)粒充(chong)分分(fen)散，電(dian)磁循(xun)環泵(beng)使大(da)小(xiao)顆(ke)粒在整(zheng)個循(xun)環系(xi)統(tong)中均勻(yun)分布(bu)，從(cong)而在根本(ben)上保(bao)證了寬分布(bu)樣(yang)品(pin)測試(shi)的準(zhun)確(que)重復。
激光(guang)粒徑測量分析(xi)儀(yi)的特(te)性:
1、使用(yong)了(le)xxx型(xing)高感(gan)度APD，感(gan)度(du)提(ti)升(sheng)及縮(suo)短(duan)測量時間(jian)
2、通過測量自動(dong)溫(wen)度(du)梯度(du)空間(jian)，可分(fen)析(xi)出(chu)変性(xing)?相(xiang)轉移(yi)溫(wen)度(du)
3、可(ke)測量0～90℃大(da)範(fan)圍(wei)內的(de)溫(wen)度(du)
4、追(zhui)加了(le)大(da)範(fan)圍(wei)的分(fen)子(zi)量測量及解(jie)析(xi)功能(neng)
5、懸(xuan)濁(zhuo)類(lei)高濃(nong)度(du)樣(yang)品(pin)的(de)粒徑?ZETA電(dian)位(wei)的(de)測量
6、實測cell內的(de)電(dian)氣滲透(tou)流，解(jie)析(xi)plot，提(ti)供高精(jing)度(du)的ZETA電(dian)位(wei)測量結果
7、高鹽濃(nong)度(du)溶液的ZETA電(dian)位(wei)測量
8、小(xiao)面(mian)積(ji)樣(yang)品(pin)的(de)平(ping)板(ban)ZETA電(dian)位(wei)測量
