zeta電(dian)位(wei)分析(xi)儀

     zeta電(dian)位(wei)分析(xi)儀是采用光(guang)子相(xiang)關(guan)光(guang)譜(pu)法、電(dian)泳(yong)光(guang)散(san)射(she)以及(ji)FST技術(shu)來分析(xi)的(de)麥(mai)克默(mo)瑞(rui)提克納(na)米(mi)粒度(du)儀和(he)zeta電(dian)位(wei)壹(yi)體機(ji)，並可(ke)測定固體以(yi)及高(gao)濃度(du)懸(xuan)浮液的zeta電(dian)位(wei)，符合(he)ISO標準。該(gai)儀器(qi)采用了(le)高(gao)靈(ling)敏(min)度(du)測量技術(shu)，可(ke)同時滿(man)足低濃度(du)和(he)高(gao)濃(nong)度(du)樣品納(na)米(mi)粒度(du)與(yu)zeta電(dian)位(wei)分析(xi)的(de)要(yao)求(qiu)，濃(nong)度(du)範圍由0.001%到(dao)40%，可檢測粒徑從(cong)0.6nm到(dao)10μm，濃度(du)從0.00001%到(dao)40%的樣(yang)品的(de)粒徑。

測量原(yuan)理：

    該儀器(qi)采用電(dian)聲(sheng)學原(yuan)理來測量顆粒(li)的(de)電(dian)動特性。在(zai)分散系中加入(ru)1個高頻(pin)的電(dian)場(chang)，則(ze)帶電(dian)顆粒(li)相(xiang)相(xiang)應(ying)電(dian)場(chang)內(nei)進(jin)行(xing)電(dian)泳(yong)。如(ru)果在(zai)顆粒(li)與(yu)液體之間產生(sheng)1個密(mi)度(du)差，則(ze)這(zhe)種(zhong)運(yun)動會產生(sheng)1個交互(hu)的聲波(bo)。采用該(gai)電(dian)場(chang)和(he)對應(ying)的聲(sheng)波技術(shu)可(ke)對樣(yang)品進(jin)行(xing)無(wu)幹(gan)擾的(de)測量，不會破壞(huai)樣品的特(te)性。

    其(qi)他技術(shu)如(ru)微(wei)量電(dian)泳(yong)和(he)電(dian)泳(yong)光(guang)散(san)射(she)技術(shu)，須(xu)要(yao)樣(yang)品(pin)被(bei)稀釋，須要(yao)將原(yuan)始(shi)濃(nong)度(du)的樣品(pin)放(fang)大稀(xi)釋(shi)好幾(ji)倍。因(yin)此(ci)，*終(zhong)用戶(hu)須(xu)在(zai)人(ren)為(wei)的狀(zhuang)態下(xia)分析(xi)顆粒(li)樣(yang)品的(de)特性，而(er)不是獲得(de)實(shi)際(ji)狀(zhuang)態下(xia)樣(yang)品(pin)的(de)真(zhen)實特(te)性描(miao)述。並(bing)且(qie)，嚴(yan)格的光(guang)學聚焦和(he)擴(kuo)展調整來適(shi)應靜(jing)態的(de)層裝樣(yang)品，使得(de)微(wei)量電(dian)泳(yong)技術(shu)變(bian)得非常(chang)煩(fan)瑣，而大(da)的直(zhi)流(liu)電(dian)場(chang)可(ke)導(dao)致(zhi)樣品的PH發(fa)生(sheng)漂移(yi)。如(ru)果采用ZetaFinder型電(dian)位(wei)分析(xi)儀，則(ze)這(zhe)些(xie)問(wen)題(ti)將不復存在(zai)。

zeta電(dian)位(wei)分析(xi)儀技術(shu)特(te)點

1)采用的(de)電(dian)動聲波(bo)振蕩技術(shu)，該(gai)儀器(qi)可完(wan)成(cheng)非(fei)凡的電(dian)動測量結(jie)果，從(cong)而避免了傳統的微(wei)電(dian)泳(yong)技術(shu)的(de)許(xu)多限制和(he)局限。

2)提(ti)供數(shu)據(ju)快(kuai)速準確而不需要(yao)稀(xi)釋(shi)樣品(pin)，從而(er)避免了稀(xi)釋(shi)器(qi)材的使(shi)用(yong)和(he)錯(cuo)誤(wu)(樣品稀釋(shi)，Zeta電(dian)位(wei)將*改變(bian));

3)該儀器(qi)可同時測量Zeta電(dian)位(wei)、PH、電(dian)導(dao)、溫(wen)度(du)等指標。樣品(pin)在(zai)測量時(shi)甚(shen)至可(ke)以進(jin)行(xing)滴(di)定(ding)操作；

4)堅固的(de)、多(duo)功能的(de)、鍍金的(de)Zeta浸(jin)入(ru)探頭(tou)可(ke)以(yi)用於樣品(pin)室或(huo)獨(du)立(li)的(de)容(rong)器(qi)中；

5)自動滴定(ding)法(fa)用於簡(jian)單(dan)的(de)IEP測量；

6)樣(yang)品可(ke)被(bei)強(qiang)烈攪拌或(huo)混(hun)合(he)，因(yin)此(ci)不會產生(sheng)沈(chen)澱(dian)物(wu)；

7)高(gao)頻(pin)電(dian)場(chang)采用非(fei)常(chang)短(duan)的(de)脈(mai)沖(chong)，因(yin)此(ci)樣(yang)品測量時(shi)不會產生(sheng)錯(cuo)誤(wu)；

8)可(ke)實時測量實(shi)際(ji)樣(yang)品(pin)；

9)不使用光(guang)學技術(shu)，因(yin)此(ci)可(ke)以在(zai)任(ren)何(he)pH值(zhi)下(xia)分析(xi)固(gu)體、不透明(ming)或(huo)半(ban)透明(ming)樣(yang)品；

10)可測量水溶液、非水溶液分散系，分散系濃度(du)範圍從0.1% ~60%。非(fei)常(chang)輕松就可測量1nm到(dao)50um的樣(yang)品顆粒(li)；

11)該(gai)儀器(qi)操作非常簡(jian)單(dan)。它提供電(dian)腦(nao)控制、自動測量，不須特別(bie)的(de)樣品池，樣品可(ke)隨(sui)時從(cong)任(ren)何(he)現(xian)場(chang)或(huo)實(shi)驗(yan)中獲取，可直(zhi)接實(shi)時(shi)獲得(de)理(li)想(xiang)的

 技術(shu)參(can)數(shu)

1.適(shi)用粒(li)度(du)範圍：0.001-100μm

2.樣品(pin)體積(ji)：0.18～1.5ml

3.pH值測量範圍：1-14

4.電(dian)導(dao)率(lv)範圍：0-20 S/m

5.電(dian)泳(yong)遷(qian)移(yi)率(lv)範圍：10-10～10-7m2 /V.s

6.溫(wen)度(du)控制：-5～110℃, ±0.1℃

7.電(dian)場(chang)強(qiang)度(du)：0～3.2 kV/m

8.電(dian)極(ji)：永(yong)性開放式(shi)電(dian)極(ji)，電(dian)極(ji)材料純鈀