激(ji)光功率測(ce)量系(xi)統(tong) LPMS

以精(jing)確(que)和可(ke)重現(xian)的(de)方(fang)法測試VCSEL和(he)激(ji)光器特點(dian):

• 積(ji)分(fen)球(qiu)內(nei)部使用Spectraflect^®或(huo) Spectralon^®塗(tu)料，可(ke)以降低(di)激(ji)光方(fang)向(xiang)對(dui)測試帶來的影響(xiang)
• 堅固(gu)的光(guang)纖(xian)安(an)裝(zhuang)端(duan)口
• 3種(zhong)積(ji)分(fen)球(qiu)尺寸(cun)可(ke)選：2,4,6英(ying)寸可(ke)選
• 3種(zhong)探測器可(ke)選：Silicon (Si), InGaAs (IN)
• 可(ke)為光(guang)纖(xian)或者(zhe)光(guang)譜(pu)儀預(yu)留出安(an)裝(zhuang)端(duan)口
• 校(xiao)準(zhun)結(jie)果可(ke)溯源至NIST

適(shi)於(yu)測量：

• VCSEL
• 激(ji)光
• 激(ji)光二(er)極管
• 激(ji)光二(er)極管組(zu)件
• 發散(san)的(de)單(dan)色(se)光源
• 脈沖激(ji)光功率

藍(lan)菲(fei)光學(xue)激(ji)光功率測(ce)量系(xi)統(tong)（LPMS）系(xi)列(lie)確(que)保了(le)以精(jing)確(que)和可(ke)重現(xian)的(de)方(fang)法測定被校(xiao)準(zhun)或發散(san)的(de)激(ji)光或激(ji)光二(er)極管。LPMS積(ji)分(fen)球(qiu)專門(men)設計(ji)用於(yu)激(ji)光，是(shi)測量光(guang)輻射(she)束(shu)總(zong)功率的(de)理(li)想(xiang)選(xuan)擇(ze)。由於(yu)積(ji)分(fen)球(qiu)*的幾(ji)何結(jie)構，激(ji)光束功率測(ce)量不受(shou)激(ji)光束偏振及(ji)校(xiao)準(zhun)的影響(xiang)。伴隨積(ji)分(fen)球(qiu)總處(chu)理(li)能(neng)力(li)產生(sheng)的(de)衰減也(ye)緩(huan)和(he)了(le)探測器的(de)飽(bao)和(he)。該系(xi)統(tong)可(ke)與(yu)開(kai)口(kou)壹(yi)起(qi)使用或(huo)用壹(yi)系(xi)列(lie)的(de)可(ke)選的(de)光(guang)纖適(shi)配(pei)器開(kai)孔，用於(yu)激(ji)光二(er)極管組(zu)件或開(kai)口(kou)縮減接(jie)頭。

該系(xi)統(tong)可(ke)為350到(dao)1700nm波長區域(yu)內(nei)的激(ji)光提供光(guang)功率從(cong)幾nW到(dao)幾(ji)百(bai)W的(de)激(ji)光功率測(ce)量。針(zhen)對(dui)壹(yi)些(xie)特殊(shu)的(de)應用，我們(men)亦可(ke)通(tong)過(guo)增加(jia)ND濾(lv)波片進行衰減。該系(xi)統(tong)的(de)校(xiao)準(zhun)可(ke)溯源至國(guo)家標準(zhun)技術研(yan)究所（NIST）。

積(ji)分(fen)球(qiu)結(jie)構*，靈活且(qie)準(zhun)確(que)：內(nei)部塗(tu)層可(ke)選，帶有(you)兩(liang)個(ge)探(tan)測器口(kou)，可(ke)測波長從(cong)250nm~20microns。直(zhi)徑(jing)為2、4、6英(ying)寸的(de)積(ji)分(fen)球(qiu)的塗(tu)層使用了(le)藍菲(fei)光學(xue)的Spectraflect^®或Infragold^®，或由我公(gong)司(si)的(de)高(gao)度(du)漫(man)反射(she)材(cai)料Spectralon^®制(zhi)成。這些漫(man)反射(she)內(nei)層既經(jing)久(jiu)耐(nai)用又(you)能(neng)長(chang)期保(bao)持高(gao)穩(wen)定性(xing)，所以確(que)保了(le)精(jing)確(que)的光積(ji)分(fen)。

輻射(she)光(guang)束(shu)從(cong)入(ru)射(she)口(kou)投(tou)射(she)到(dao)積(ji)分(fen)球(qiu)內(nei)，與(yu)積(ji)分(fen)球(qiu)入口(kou)呈45°角(jiao)處有(you)壹(yi)個(ge)探(tan)測器，可(ke)以限制(zhi)探(tan)測(ce)器視(shi)場角(jiao)，在不影響(xiang)測試(shi)精(jing)度(du)的情況下(xia)可(ke)以收集(ji)高(gao)度(du)分(fen)散(san)的(de)光源。該系(xi)統(tong)可(ke)以測試波長範(fan)圍(wei)從350~1700nm、功率從(cong)幾nW到(dao)幾(ji)百(bai)瓦(wa)範(fan)圍(wei)的激(ji)光，測試(shi)結(jie)果可(ke)溯源至NIST。

每(mei)套系(xi)統(tong)由激(ji)光功率積(ji)分(fen)球(qiu)、燈桿和燈桿支架及基(ji)礎組件、探測器組(zu)件及多波段校(xiao)準(zhun)系(xi)統(tong)組(zu)成。第(di)二(er)個(ge)探(tan)測器開(kai)口(kou)方(fang)便(bian)用戶(hu)靈活地安(an)裝(zhuang)壹(yi)個(ge)額(e)外的探(tan)測(ce)器組(zu)件或光譜(pu)儀，以分(fen)析(xi)較(jiao)寬靈敏(min)度的(de)激(ji)光或分(fen)析(xi)光(guang)譜(pu)特性(xing)。