手電筒性能測試(shi)系(xi)統

手(shou)電筒性能測試(shi)系(xi)統

滿足(zu)ANSI/ NEMA FL1標(biao)準對運(yun)行(xing)時間(jian)和光(guang)輸出測量的(de)要(yao)求(qiu)，實(shi)現(xian)精確的(de)光(guang)譜輻射測量、光(guang)度測量和比(bi)色(se)表征。

交(jiao)鑰(yao)匙(chi)系(xi)統包(bao)括(kuo)光(guang)學(xue)快(kuai)速(su)準(zhun)確(que)的(de)迷(mi)妳型(xing)光(guang)譜儀(yi)， 手電筒測量積分球(qiu)光(guang)譜儀(yi)，標準(zhun)燈(deng)光(guang)譜通量，吸(xi)收(shou)校正(zheng)燈和開(kai)關(guan)盒，用(yong)於(yu)將電流引導***標(biao)準(zhun)燈或使(shi)用(yong)相同(tong)燈電源進行(xing)輔助(zhu)吸(xi)收(shou)校正(zheng)。

測量（含(han)FPT軟(ruan)件）

• 總(zong)光(guang)通量(Lux)，

• 總(zong)正(zheng)向(xiang)光(guang)譜通量(W/nm)，

• 總(zong)輻射通量(W)，

• 色(se)溫(wen)(CCT)，

• 燈性(xing)能vs時間(jian)，

• 峰(feng)值(zhi)和主(zhu)導波(bo)長，

• 光(guang)譜純(chun)度，

• 顯色(se)指數(shu)(CRI)，

• 色(se)度坐標，

• 半(ban)帶寬，運(yun)行(xing)時間(jian)。

手(shou)電筒性能測試(shi)系(xi)統