多(duo)檢(jian)體(ti)納(na)米粒(li)徑(jing)量(liang)測系統nanoSAQLA-上(shang)海倍(bei)藍(lan)光(guang)電(dian)科技有(you)限(xian)公(gong)司(si)

產品(pin)目(mu)錄(lu)

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產(chan)品(pin)名(ming)稱： 多(duo)檢(jian)體納(na)米粒(li)徑(jing)量(liang)測系統

發布日(ri)期： 2025-04-08

訪(fang)問(wen)量(liang)： 2690

多檢(jian)體納(na)米粒(li)徑(jing)量(liang)測系統，利用動態光散射(she)法(DLS法(fa))的粒(li)徑(jing)測(ce)量(liang)（粒(li)徑(jing)0.6nm～10μm）儀(yi)器(qi)。可(ke)對(dui)應檢(jian)體(ti)範(fan)圍(wei)廣(guang)，低濃度(du)～高濃度(du)類，新(xin)光學系，輕便•小型(xing)，實驗室(shi)標(biao)配。實現標(biao)準1分(fen)鐘(zhong)高速(su)測(ce)量(liang)。

詳細(xi)內(nei)容(rong)

多檢(jian)體(ti)納(na)米粒(li)徑(jing)量(liang)測系統

利用動態光散射(she)法(DLS法(fa))的粒(li)徑(jing)測(ce)量(liang)（粒(li)徑(jing)0.6nm～10μm）儀(yi)器(qi)。

可(ke)對(dui)應檢(jian)體(ti)範(fan)圍(wei)廣(guang)，低濃度(du)～高濃度(du)類，新(xin)光學系，輕便•小型(xing)，實驗室(shi)標(biao)配。實現標(biao)準1分(fen)鐘(zhong)高速(su)測(ce)量(liang)。

<strong>多檢(jian)體納(na)米粒(li)徑(jing)量(liang)測系統</strong>nanoSAQLA(圖1)

特點(dian)

只(zhi)需(xu)壹(yi)臺，輕松(song)實現5檢體連續測(ce)量(liang)

低濃度(du)到(dao)高濃度(du)都可(ke)對(dui)應

高速(su)測(ce)量(liang)，標(biao)準時間1分(fen)鐘(zhong)

搭載(zai)了簡(jian)單(dan)的測(ce)量(liang)功(gong)能 (1鍵測(ce)量(liang))

內(nei)置(zhi)非(fei)浸泡(pao)型(xing)的cell block，無(wu)分(fen)註(zhu)夾雜(za)物(wu)

搭(da)載(zai)溫(wen)度(du)梯度(du)功(gong)能

測量(liang)範(fan)圍(wei)

粒(li)徑(jing) 0.6nm～10μm

濃(nong)度(du)範(fan)圍(wei) 0.00001～40％

溫(wen)度(du)範(fan)圍(wei) 0～90℃*

多(duo)檢(jian)體納(na)米粒(li)徑(jing)量(liang)測系統 產(chan)品(pin)規格

型(xing)號(hao)	多(duo)檢(jian)體(ti)NANO粒(li)徑(jing)測(ce)量(liang)系統
測(ce)量(liang)原(yuan)理	動態光散射(she)法
光(guang)源	高出力(li)半導體(ti)激(ji)光*1
檢出(chu)器	高感光(guang)度(du)APD
連續測(ce)量(liang)	5檢體(ti)
測量(liang)範(fan)圍(wei)	0.6nm ～ 10μm
對(dui)應濃(nong)度(du)	0.00001 ～ 40% *2
溫(wen)度(du)	0 ～ 90℃ （有(you)溫(wen)度(du)梯度(du)功(gong)能） *3
規格	遵(zun)照(zhao) ISO 22412：2017
	遵照(zhao)JIS Z 8828：2013
	遵照JIS Z 8826：2005
尺(chi)寸	W240 X D480 X H375 mm
重量(liang)	約(yue)18 kg
軟件(jian)	平(ping)均(jun)粒(li)徑(jing)解(jie)析(xi) （累積(ji)法(fa)解(jie)析(xi)）
	粒(li)度(du)分(fen)布解析(xi)
	（Marquardt法/NNLS/Contin法(fa)/Unimodal法(fa)）粒(li)度(du)分(fen)布疊寫逆相關(guan)函(han)數・殘差(cha)plot 粒(li)徑(jing)monitor 粒(li)徑(jing)顯示(shi)範(fan)圍(wei) （0.1 ～ 106 nm）分(fen)子(zi)量(liang)計(ji)算功(gong)能

1 根據激光(guang)安全(quan)基(ji)準(zhun) （JIS C6802）級(ji)別區(qu)分(fen)，本(ben)儀器的安全(quan)級(ji)別為1級(ji)。
2 Latex120nm：0.00001 ～ 10％、牛黃(huang)膽(dan)酸：～40%
3 標(biao)準glass cell的批(pi)量(liang)測量(liang)的情(qing)況。

留(liu)言框(kuang)

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請(qing)輸入計(ji)算結(jie)果(guo)（填寫阿(e)拉(la)伯數字），如：三(san)加(jia)四=7

上壹(yi)篇(pian)：OPTM系列(lie)顯微分(fen)光(guang)膜厚儀下(xia)壹篇(pian)：ELSZ-2000系列(lie)電(dian)位(wei)粒(li)徑(jing)分(fen)子(zi)量(liang)測系統

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