顯(xian)微(wei)分光(guang)膜(mo)厚儀(yi)

顯(xian)微(wei)分光(guang)膜(mo)厚儀(yi)

測量(liang)目標(biao)膜(mo)的**反射(she)率(lv)，高(gao)精(jing)度(du)測量膜厚(hou)和(he)光學(xue)常(chang)數(shu)！非(fei)接觸(chu)·非(fei)破壞·顯(xian)微(wei)

測量(liang)時間僅(jin)1秒!

OPTM系列使(shi)用(yong)顯(xian)微(wei)光譜法在微(wei)小(xiao)區域內(nei)通(tong)過(guo)**反(fan)射(she)率(lv)進(jin)行測(ce)量，可進(jin)行高(gao)精(jing)度(du)膜厚度(du)/光學(xue)常(chang)數(shu)分(fen)析(xi)。通(tong)過(guo)非(fei)破壞性(xing)和非(fei)接觸(chu)方式(shi)測量(liang)塗膜(mo)的厚度(du)，例如(ru)各種(zhong)膜、晶片、光(guang)學(xue)材(cai)料和多層(ceng)膜。 測(ce)量(liang)時間上，能達到(dao)1秒/點(dian)的高速測量(liang)，並且搭(da)載了(le)即(ji)使(shi)是初次使(shi)用(yong)的用戶，也可(ke)容(rong)易(yi)出分(fen)析光學(xue)常(chang)數(shu)的軟件

產(chan)品(pin)特(te)點(dian)：

頭(tou)部集成(cheng)了(le)薄膜厚(hou)度(du)測量所需(xu)功能

通(tong)過(guo)顯(xian)微(wei)光譜法測量高(gao)精(jing)度(du)**反射(she)率(lv)（多層(ceng)膜厚(hou)度(du)，光學(xue)常(chang)數(shu)）

1點(dian)1秒高(gao)速(su)測量(liang)

顯(xian)微(wei)分光(guang)下(xia)廣範(fan)圍(wei)的光學(xue)系統(tong)（紫(zi)外***近紅(hong)外）

區域傳(chuan)感器(qi)的安全(quan)機制

易(yi)於(yu)分析(xi)向導，初學(xue)者(zhe)也能夠(gou)進(jin)行光(guang)學(xue)常(chang)數(shu)分(fen)析(xi)

獨(du)立測量(liang)頭對(dui)應各種(zhong)inline客(ke)制化需(xu)求(qiu)

支(zhi)持各(ge)種(zhong)自(zi)定(ding)義(yi)

測量(liang)項(xiang)目：

**反射(she)率(lv)測(ce)量

多層(ceng)膜解(jie)析

光(guang)學(xue)常(chang)數(shu)分(fen)析(xi)（n：折(zhe)射(she)率(lv)，k：消光系數(shu)）

應用：

半(ban)導體(ti)：晶圓(yuan)樣(yang)品(pin)的自(zi)動(dong)調整，晶圓(yuan)的彎曲(qu)檢(jian)測

光(guang)學(xue)元器(qi)件：鏡頭鏡片的放(fang)射(she)率(lv)，彎(wan)曲(qu)等檢(jian)測

顯(xian)微(wei)分光(guang)膜(mo)厚儀(yi) 產(chan)品(pin)規格(ge)型號：