VCSEL LIVT 光學測(ce)試系(xi)統
近年(nian)來(lai),VCSEL產(chan)業(ye)得(de)到了(le)迅(xun)猛(meng)的(de)發(fa)展(zhan),VCSEL作(zuo)為新(xin)壹代(dai)光存(cun)儲和光通(tong)信應用(yong)的(de)核(he)心(xin)器件(jian),應用(yong)在光並行處(chu)理、光識(shi)別、光互(hu)聯系(xi)統、光存(cun)儲等(deng)領域(yu)。隨著(zhe)智能化(hua)信息(xi)世(shi)界(jie)的(de)不斷發展(zhan),VCSEL將(jiang)廣泛應用(yong)在消(xiao)費電(dian)子(zi)3D成(cheng)像(xiang)、物(wu)聯網(wang)、數(shu)據中(zhong)心(xin)/雲計算(suan)、自(zi)動(dong)駕(jia)駛等(deng)領域(yu)。其(qi)中,VCSEL在消(xiao)費電(dian)子(zi)領(ling)域(yu)發揮(hui)越來越重要的(de)作(zuo)用(yong),VCSEL可(ke)用(yong)來進行智能手(shou)機人臉(lian)識(shi)別、無(wu)人機(ji)避障、VR/AR、掃(sao)地(di)機器人、家(jia)用(yong)攝像(xiang)頭等(deng)。

VCSEL器件(jian)較大(da)的(de)發(fa)光角和(he)快速(su)脈(mai)沖模式使(shi)得(de)傳(chuan)統的(de)激(ji)光功(gong)率計不能得(de)到理想的(de)測(ce)試結(jie)果, 此外,電(dian)光轉(zhuan)換效率和波長-溫(wen)度漂(piao)移成(cheng)為了(le)評價VCSEL 器件(jian)的(de)關(guan)鍵(jian)指標(biao)。我們(men)公司(si)推出(chu)的(de)VCSEL LIVT 測(ce)試系(xi)統,解決了(le)上(shang)述(shu)的(de)測(ce)試難題(ti),是行業(ye)內(nei)研發測(ce)試,質量(liang)檢查,生產(chan)測(ce)試的(de)理想選(xuan)擇(ze)方(fang)案(an)。

VCSEL LIVT 測(ce)試系(xi)統使用(yong) Spectralon 、 Permaflect 或 Spectraflect 積(ji)分球(qiu)對器件(jian)發光進行收集。該(gai)材料對(dui)紫(zi)外-可(ke)見-紅外範(fan)圍(wei)內(nei)的(de)光都(dou)具(ju)有(you)*高的(de)光譜(pu)反(fan)射(she)率, 可(ke)分(fen)別滿足研(yan)發(fa)端(duan)和產(chan)線(xian)段(duan)對(dui)高低(di)溫(wen)度測(ce)試和產(chan)線(xian)端(duan)設備免(mian)維(wei)護性(xing)的(de)要(yao)求(qiu)。此外,通(tong)過選(xuan)擇(ze)不同尺(chi)寸(cun)的(de)積(ji)分球(qiu),可(ke)以(yi)滿足從(cong)毫(hao)瓦(wa)到千(qian)瓦量(liang)級的(de)激(ji)光功(gong)率測(ce)試。
用(yong)戶可(ke)根(gen)據需(xu)要選(xuan)擇(ze)不同尺(chi)寸(cun)和功(gong)率的(de)溫(wen)度控制(zhi)器,並將(jiang)待測(ce)器件(jian)置於溫(wen)度控制(zhi)器上(shang)以保(bao)證(zheng)待(dai)測(ce)器件(jian)工作(zuo)在理想的(de)溫(wen)度。系(xi)統搭配的(de)高速(su)探(tan)測(ce)器可(ke)精(jing)準(zhun)並快速(su)的(de)采集 VCSEL 發出(chu)的(de)脈(mai)沖(chong)光,並依據用(yong)戶設置的(de)測(ce)試方法(fa)完成(cheng)完(wan)整的(de) LIVT 測(ce)試。
產(chan)品(pin)特點:
· 精準(zhun),快速(su),便捷的(de)自(zi)動(dong)化(hua) LIVT 測(ce)試
· 經溯(su)源(yuan)*** NIST 穩(wen)定(ding)準(zhun)確(que)的(de) 940nm 標(biao)準(zhun)光源(yuan)校正
· 高穩定(ding)性(xing)高分辨(bian)率光譜(pu)分(fen)析(xi)儀(yi)(光譜(pu)分(fen)辨(bian)率***高達(da) 0.1-0.16nm)
· Spectralon 材料,耐(nai)溫(wen) 400 度
· 精準(zhun)快速(su)的(de)溫(wen)度控制(zhi)
· 精確(que)快速(su)的(de)數(shu)據采集(** 200KHz)
· 用(yong)戶自(zi)定(ding)義驅(qu)動(dong)方(fang)式(如:脈(mai)寬(kuan),周(zhou)期等(deng))
· 強(qiang)大的(de)軟(ruan)件(jian)功(gong)能(neng),可(ke)記(ji)錄(lu) LIVT 曲線和(he) T-W
(溫(wen)度-波長漂(piao)移)曲線
VCSEL LIVT 光學測(ce)試系(xi)統 規(gui)格(ge)參(can)數:
產(chan)品(pin)型(xing)號 | CSTM-VCSEL-PW-060-LIVT |
積(ji)分球(qiu)材質 | Spectralon/Spectraflect/Permaflect |
積(ji)分球(qiu)尺(chi)寸(cun)(英(ying)寸(cun)) | 6 (可(ke)定(ding)制(zhi)) |
入光口徑(jing)(英(ying)寸(cun)) | 1.5 (可(ke)定(ding)制(zhi)) |
光譜(pu)儀(yi)波長範(fan)圍(wei)(nm) | 800-980 |
光譜(pu)儀(yi)分(fen)辨(bian)率 FWHM(nm) | 0.1-0.16nm |
光譜(pu)儀(yi)波長探測(ce)精(jing)度(du)(nm) | ±0.1nm |
**采樣頻(pin)率 | 200KHz |
功(gong)率探測(ce)範(fan)圍(wei)(Spectralon) @940nm | 1mW ~ 200W |
高速(su)探(tan)測(ce)器線(xian)性度(du) | 0.5% |
高速(su)探(tan)測(ce)器測(ce)試精度(du) | ±1% |
高速(su)探(tan)測(ce)器有(you)效讀數 | 5 位(wei) |
VCSEL 溫(wen)控範(fan)圍(wei)(℃) | 1-85 |
VCSEL 溫(wen)控精度(du)(℃) | ±0.1 |
數據傳(chuan)輸(shu)接口 | USB |
積(ji)分球(qiu)滑軌尺(chi)寸(cun)(mm) | 60x20x30 |
積(ji)分球(qiu)滑軌重量(liang)(kg) | 5kg |
軟件功(gong)能(neng)
VCSEL LIVT 設置 | 數據輸(shu)出(chu) |
驅(qu)動(dong)電(dian)流/電(dian)壓大小(xiao) | 光譜(pu)峰(feng)值 |
掃(sao)描(miao)脈沖(chong)寬(kuan)度(du)/占空比 | 光譜(pu)寬(kuan)度(du)(FWHM) |
掃(sao)描(miao)脈沖(chong)數(shu)量(liang) | 平均功(gong)率/峰值功(gong)率 |
溫(wen)度範(fan)圍(wei) | LIV 關系(xi) |
采樣頻(pin)率 | T-W 關系(xi) |