BRDF/BTDF測試儀(yi)

本(ben)測(ce)量設(she)備是(shi)用(yong)於各(ge)種(zhong)材料(liao)散射特(te)性(xing)測量。通(tong)過(guo)光(guang)源壹維旋轉，探(tan)測(ce)器二維(wei)旋(xuan)轉(zhuan)實(shi)現(xian)不同(tong)入(ru)射(she)和(he)反射(she)（透(tou)射）幾(ji)何(he)條(tiao)件下樣(yang)品(pin)反射(she)、透射(she)輻亮(liang)度(du)的(de)測(ce)量。系(xi)統(tong)包(bao)括(kuo)準直光源、光源支架、可調(tiao)樣品(pin)支架(jia)、探(tan)測(ce)器、探(tan)測(ce)器旋轉(zhuan)機構、探(tan)測(ce)器支架(jia)及(ji)測(ce)試軟件等部分。

BRDF/BTDF測試儀(yi) 主(zhu)要測(ce)試參數

 復(fu)色(se)光和(he)單(dan)色(se)光BRDF

 復(fu)色(se)光和(he)單(dan)色(se)光BTDF

 不(bu)同角度(du)反射透(tou)射光通量

 不(bu)同(tong)角度(du)反射透(tou)射輻射亮(liang)度(du)

 材料(liao)不同角度(du)散射光(guang)色(se)溫，色(se)坐標

BRDF/BTDF測試儀(yi) 系統(tong)結構

1. 光(guang)源

 為提(ti)高樣品(pin)散射(she)信號(hao)的(de)信(xin)噪(zao)比，采(cai)用(yong)寬(kuan)光譜高亮(liang)度(du)鹵(lu)鎢(wu)燈作(zuo)為光(guang)源，並通過準直透鏡將(jiang)光線(xian)準直後出(chu)射到樣(yang)品(pin)上。

 可通過(guo)調(tiao)節透(tou)鏡焦(jiao)距(ju)，實(shi)現(xian)不同(tong)大小(xiao)光(guang)斑(ban)。

 光(guang)源還可增(zeng)加(jia)濾(lv)光(guang)片，實(shi)現(xian)不同(tong)顏色(se)單(dan)色(se)光入(ru)射(she)。

2 光源支架

 通過半圓(yuan)形光(guang)源支架，實(shi)現(xian)光源0-180°入(ru)射(she)角度(du)調(tiao)節。

 采(cai)用(yong)高精(jing)度(du)步進(jin)電(dian)機，配合軟(ruan)件控制(zhi)，保(bao)證(zheng)入(ru)射(she)角度(du)精(jing)確(que)性(xing)。

3.可調(tiao)樣品(pin)支架(jia)

 樣品(pin)可被夾(jia)持在(zai)樣(yang)品(pin)支架(jia)上。

 樣(yang)品(pin)支架(jia)可上下(xia)調(tiao)節，通(tong)過光(guang)源及(ji)探(tan)測(ce)器對準標記，實(shi)現(xian)樣品(pin)位置調(tiao)節及(ji)對(dui)準。

4.探(tan)測(ce)器

 采(cai)用(yong)矽(gui)探(tan)測(ce)器，探(tan)測(ce)範(fan)圍300nm-1000nm。

 進(jin)行(xing)散(san)射(she)特(te)性(xing)**測量時(shi)，可選裝探(tan)測(ce)系(xi)統(tong)，主(zhu)要包(bao)括(kuo)成像光學(xue)系統(tong)、斬(zhan)波器、單(dan)色(se)儀(yi)、探(tan)測(ce)器和(he)鎖相(xiang)放大(da)器等。成(cheng)像光學(xue)系統(tong)對(dui)樣(yang)品(pin)漫(man)射板測點成(cheng)像，像位於單(dan)色(se)儀(yi)入(ru)射(she)狹縫。復(fu)色(se)光進(jin)入(ru)單(dan)色(se)儀(yi)入(ru)射(she)狹縫經(jing)準直後由(you)光柵分光，再(zai)經(jing)會聚鏡(jing)會(hui)聚(ju)***探(tan)測(ce)器，探(tan)測(ce)器將(jiang)光信(xin)號(hao)轉換為電(dian)信號(hao)，由鎖相(xiang)放大(da)器放大(da)並根(gen)據斬波器頻(pin)率提(ti)取信號(hao)獲得(de)光(guang)譜DN值。

5.探(tan)測(ce)器支架(jia)及(ji)旋(xuan)轉(zhuan)機構

 探(tan)測(ce)器支架(jia)及(ji)旋(xuan)轉(zhuan)機構，可使探(tan)測(ce)器在整個(ge)球面(mian)範(fan)圍內(nei)移動(dong)，實(shi)現(xian)對反(fan)射和(he)透射(she)信(xin)號(hao)測量。

 采(cai)用(yong)高精(jing)度(du)步進(jin)電(dian)機，配合軟(ruan)件控制(zhi)，保(bao)證(zheng)反(fan)射(she)和(he)透射(she)角度(du)精(jing)確(que)性(xing)。

6.軟件部分

為了(le)提(ti)高測量速(su)度(du)和(he)精(jing)度(du)，特(te)別(bie)為裝(zhuang)置開(kai)發(fa)了測控軟(ruan)件，支持(chi)多種(zhong)幾(ji)何條(tiao)件下散(san)射特(te)性(xing)壹次(ci)性(xing)自動測(ce)量。首(shou)先進(jin)行(xing)光(guang)源入(ru)射(she)輻亮(liang)度(du)測量，而後對(dui)樣品(pin)漫(man)射板設(she)定幾何條(tiao)件反射(she)輻亮(liang)度(du)進(jin)行(xing)測(ce)量，如(ru)此(ci)循環(huan)直***完成所有(you)設(she)定幾何條(tiao)件的(de)散(san)射(she)特(te)性(xing)測量為止，軟件直接輸(shu)出(chu)散(san)射(she)特(te)性(xing)曲(qu)線(xian)。

軟件測試界面(mian)